مكتبة الوراق

الرئيسية / سياسة واقتصاد / Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices. Quarterly report, July 1 to Sept. 30, 1968. Ed. by W. Murr

سياسة واقتصادMethods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices. Quarterly report, July 1 to Sept. 30, 1968. Ed. by W. MurrUnited States. National Bureau of StandardsMethods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices. Quarterly report, July 1 to Sept. 30, 1968. Ed. by W. Murr

Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices. Quarterly report, July 1 to Sept. 30, 1968. Ed. by W. Murr

United States. National Bureau of Standards

سياسة واقتصادالإنجليزية
اقرأ الكتابHathiTrustInternet Archive

مكتبة الوراق لا تستضيف ملفات الكتب، بل توصلك إلى نسختها في مصدرها الأصلي. ووضع «الملك العام» يختلف من بلد إلى آخر، فتحقّق من قانون بلدك قبل تنزيل الكتاب أو إعادة نشره. صاحب حق في هذا العمل؟ اطلب إزالته

«Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices. Quarterly report, July 1 to Sept. 30, 1968. Ed. by W. Murr» لـUnited…

معلومات الفهرسة

المؤلف
United States. National Bureau of Standards
التصنيف
سياسة واقتصاد
اللغة
الإنجليزية
المصدر
مكتبة HathiTrust

نبذة عن الكتاب

«Methods of measurement for semiconductor materials, process control, and devices. Quarterly report, July 1 to Sept. 30, 1968. Ed. by W. Murr» كتاب للمؤلف United States. National Bureau of Standards ضمن تصنيف «سياسة واقتصاد»، مكتوب باللغة الإنجليزية. هو من الكتب الموجودة في الملكية العامة، فيمكنك قراءته مجاناً من المصدر المفتوح عبر الأزرار أعلاه، وإن أعجبك فاضغط «أعجبني» لتساعد غيرك على اكتشافه. وفي الأسفل كتب مشابهة قد تعجبك.

كتب تشبه هذا الكتاب